SiC結晶中のらせん転位で生じるX線光渦の二光束X線トポグラフィーによる検出
SiC結晶中のらせん転位で生じるX線光渦の二光束X線トポグラフィーによる検出
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使用双束 X 射线形貌检测 SiC 晶体中螺旋位错产生的 X 射线光学涡旋
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
大和田健二他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
香村芳樹;澤田圭;大和田健二他
