Electrical Properties of Vanadium Dioxide Thin Films on Silicon Substrate with Metal-Insulator Transition
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复制标题
硅衬底上金属-绝缘体转变二氧化钒薄膜的电性能
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Nurul Hanis Azhan and Kunio Okimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Nurul Hanis Azhan and Kunio Okimura
