Yukio Hasegawa: "Calculation of Noise Intensity in the Frequency Demodulation for Atomic Force Microscopy"Japanese Journal of Applied Physics. 43・2B. L303-L305 (2004)
Yukio Hasegawa: "Calculation of Noise Intensity in the Frequency Demodulation for Atomic Force Microscopy"Japanese Journal of Applied Physics. 43・2B. L303-L305 (2004)
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长谷川由纪夫：“原子力显微镜频率解调中的噪声强度计算”日本应用物理学杂志43・2B（2004）。
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