Evaluation of Thermoelectric Properties of VLS-Grown Bridged Si Nanowire
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复制标题
VLS 生长的桥接硅纳米线的热电性能评估
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Sugano and Y. Isono
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Uesugi;R. Kitagawa;R. Oguni;K. Sugano and Y. Isono
