Application of Focussed Ion Beams to the Bend Testing of Microscale materials

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聚焦离子束在微型材料弯曲测试中的应用

DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
Thin Solid Films (In press)
影响因子:
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通讯作者:
Y.Higo
Y.Higo
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
T.P.Halford;M.Kubota;R.Tarumi;K.Takashima;Y.Higo

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