Nano-scale phase changes in Ge-Sb-Te films with electrical scanning probe microscopes
Nano-scale phase changes in Ge-Sb-Te films with electrical scanning probe microscopes
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使用电扫描探针显微镜观察 Ge-Sb-Te 薄膜的纳米级相变
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Sugawara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Tanaka;T.Gotoh;K.Sugawara
