Yozo Kanda and Yuji Itoh : Stress-induced Effects on the Depletion Layer Capacitance of Silicon
Yozo Kanda and Yuji Itoh : Stress-induced Effects on the Depletion Layer Capacitance of Silicon
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Yozo Kanda 和 Yuji Itoh：应力对硅耗尽层电容的影响
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kazunori Matsuda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Matsuda;Y.Kanda;and Y.Itoh;Kazunori Matsuda
