Takeshi AOKI: "Evaluation of Defect Density of a‐Ge:H Films by CPM(constant current method)" Jpn.J.Appl.Phys.
Takeshi AOKI: "Evaluation of Defect Density of a‐Ge:H Films by CPM(constant current method)" Jpn.J.Appl.Phys.
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Takeshi AOKI：“通过 CPM（恒流法）评估 a-Ge:H 薄膜的缺陷密度”Jpn.J.Appl.Phys。
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