HfxZr1-xO2強誘電体を用いたGe MFIS構造の界面特性が分極反転挙動に与える影響
HfxZr1-xO2強誘電体を用いたGe MFIS構造の界面特性が分極反転挙動に与える影響
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使用 HfxZr1-xO2 铁电体的 Ge MFIS 结构的界面特性对极化反转行为的影响
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岩重宏一郎，トープラサートポン カシディット，竹中充，高木信一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
赤川徹朗;境野翔;佐藤駿介，松村 透，齊藤 準;岩重宏一郎，トープラサートポン カシディット，竹中充，高木信一
