Observation of Si(100) surface with noncontact atomic force microscope at 5K
Observation of Si(100) surface with noncontact atomic force microscope at 5K
复制标题
用非接触式原子力显微镜在5K下观察Si(100)表面
DOI：
10.1016/s0169-4332(01)00939-4
复制
发表时间：
2002
影响因子：
6.7
通讯作者：
S. Morita
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Uozumi;Y. Tomiyoshi;N. Suehira;Y. Sugawara;S. Morita
利用低温非接触原子力显微镜（LT-NC-AFM）在5 K下观察了Si（100）表面的原子分辨率图像。Si（100）表面除了缺陷附近的对称二聚体结构外，几乎都是非对称二聚体结构。不对称二聚体主要为c（4×2）反平行锯齿型结构，部分为p（2×2）平行锯齿型结构。
We observed atomic resolution images of the Si(100) surface at 5K using low-temperature noncontact atomic force microscope (LT-NC-AFM). Si(100) surface shows almost the asymmetric dimers structure, except for the symmetric dimers structure near the defects. The asymmetric dimers are mainly c(4×2) structure with antiparallel zigzag pattern and partly p(2×2) structure with parallel zigzag pattern.