Lattice strain vs. defect association: Rare earth doped-CeO2 films
Lattice strain vs. defect association: Rare earth doped-CeO2 films
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晶格应变与缺陷关联：稀土掺杂 CeO2 薄膜
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Sasaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. F. Harrington;N. Perry;H. L. Tuller;B. Yildiz;K. Sasaki
