M. Fukuzawa and M. Yamada: "Photoelastic characterization of Si wafers by scanning infrared olariscope"Journal of Crystal Gtowth. 229. 22-25 (2001)
M. Fukuzawa and M. Yamada: "Photoelastic characterization of Si wafers by scanning infrared olariscope"Journal of Crystal Gtowth. 229. 22-25 (2001)
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M. Fukuzawa 和 M. Yamada：“通过扫描红外偏振镜对硅晶片进行光弹性表征”水晶 Gtowth 杂志。
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