四端子測定TEGを用いたSiナノワイヤトランジスタのチャネル内電位測定
四端子測定TEGを用いたSiナノワイヤトランジスタのチャネル内電位測定
复制标题
使用四端测量 TEG 测量硅纳米线晶体管的沟道电位
DOI：
--
复制
发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
他
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
佐藤創志;上村英之;角嶋邦之;大毛利健治;山田啓作;岩井洋;他
