Ion sputtering at grazing incidence for SIMS-analysis
Ion sputtering at grazing incidence for SIMS-analysis
复制标题
用于 SIMS 分析的掠射离子溅射
DOI：
10.1016/j.nimb.2004.10.073
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发表时间：
2005
影响因子：
1.3
通讯作者：
H. Ryssel
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Ullrich;A. Burenkov;H. Ryssel
