A New Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope for a New Era
A New Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope for a New Era
复制标题
新时代的新型像差校正透射电子显微镜
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Ringnalda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. V. D. Stam;M. Stekelenburg;B. Freitag;D. Hubert;J. Ringnalda
