Depth-resolved in-situ X-ray absorption spectroscopy measure ments of Nd_2NiO_<4+δ> epitaxial thin films
Depth-resolved in-situ X-ray absorption spectroscopy measure ments of Nd_2NiO_<4+δ> epitaxial thin films
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Nd_2NiO_<4+δ>外延薄膜的深度分辨原位X射线吸收光谱测量
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et.al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Amezawa;et.al.
