Masashi Ishii: "X-ray Absorption Fine Structure Measurement Using Scanning Capacitance Microscope : Trial for Selective Observation f Trap Centers in 〜nm Region"Japanese Journal of Applied Physics. 41. 4415-4418 (2002)
Masashi Ishii: "X-ray Absorption Fine Structure Measurement Using Scanning Capacitance Microscope : Trial for Selective Observation f Trap Centers in 〜nm Region"Japanese Journal of Applied Physics. 41. 4415-4418 (2002)
复制标题
Masashi Ishii：“使用扫描电容显微镜进行 X 射线吸收精细结构测量：~nm 区域中陷阱中心的选择性观察试验”日本应用物理学杂志 41. 4415-4418 (2002)。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
