Valence band studies of the RTX (R=Pr, Nd; T=Cu, Ag, Au; X=Ge, Sn) compounds
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DOI：
10.1016/s0304-8853(00)00528-x
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发表时间：
2000-12
影响因子：
2.7
通讯作者：
A. Szytuła;A. Jezierski;B. Penc;D. Fus
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Szytuła;A. Jezierski;B. Penc;D. Fus
