Sunarno,T.Iida,et al.: "Soft-Error on Memory ICs Induced by D・T Neutrons" J.Nucl.Sci.Technol.30. 107-115 (1993)

Sunarno,T.Iida,et al.: "Soft-Error on Memory ICs Induced by D・T Neutrons" J.Nucl.Sci.Technol.30. 107-115 (1993)
复制标题

Sunarno, T. Iida 等人:“D.T 中子引起的存储器 IC 软错误”J.Nucl.Sci.Technol.30 (1993)。

DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
--
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:

文献摘要

相似文献