X-ray Fluorescence Holography Measurement of Oxynitride Thin Film of CaTaO<sub>2</sub>N
X-ray Fluorescence Holography Measurement of Oxynitride Thin Film of CaTaO<sub>2</sub>N
复制标题
CaTaO 氮氧化物薄膜的 X 射线荧光全息测量
DOI：
10.1380/ejssnt.2021.99
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发表时间：
2021
影响因子：
0.7
通讯作者：
Hayashi Kouichi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yamamoto Yuta;Kimura Koji;Ang Artoni Kevin R.;Hirose Yasushi;Hayashi Kouichi
