In-situ characterization of defects during protein crystal growth by "single layer etching
In-situ characterization of defects during protein crystal growth by "single layer etching
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通过“单层蚀刻”对蛋白质晶体生长过程中的缺陷进行原位表征
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
G. Sazaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Tsukamoto;P. Dold;E. Ono;M. Koizumu;G. Sazaki
