Ground-based Optical/Infrared Interferometry: High Resolution, High Precision Imaging
Ground-based Optical/Infrared Interferometry: High Resolution, High Precision Imaging
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地基光学/红外干涉测量：高分辨率、高精度成像
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Armstrong, J.T.,Mozurkewich, D.,Creech-Eakman, M.C.,Akeson, R.L.,Buscher, D.F.,Ragland, S.,Ridgeway, S.T.,ten Brummelaar, T.,Townes, C.H.,Wishnow, E.,Aufdenberg, J.P.,Baines, E.K.,Bakker, E.J.,Hinz, P.,Hummel, C.A.,Jorgensen, A.M.,Leisawitz, D.T.,Muterspa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Armstrong, J.T.,Mozurkewich, D.,Creech-Eakman, M.C.,Akeson, R.L.,Buscher, D.F.,Ragland, S.,Ridgeway, S.T.,ten Brummelaar, T.,Townes, C.H.,Wishnow, E.,Aufdenberg, J.P.,Baines, E.K.,Bakker, E.J.,Hinz, P.,Hummel, C.A.,Jorgensen, A.M.,Leisawitz, D.T.,Muterspa
