スタブ終端による非接触PIM測定の高感度化
スタブ終端による非接触PIM測定の高感度化
复制标题
具有短截线终端的高灵敏度非接触式 PIM 测量
DOI：
--
复制
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
鈴木寛啓・久我宣裕
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Irneza Ismail;Quang Nguyen-The;Motoharu Matsuura;and Naoto Kishi;石山真司・久我宣裕;鈴木寛啓・久我宣裕
