H.Ueno,: "Evidence for an additional noise source modifying conventional 1/f frequency dependence in sub-μm metal-oxide-semiconductor field-effect transistors"Applied Physics Letters. 78. 380-382 (2001)
H.Ueno,: "Evidence for an additional noise source modifying conventional 1/f frequency dependence in sub-μm metal-oxide-semiconductor field-effect transistors"Applied Physics Letters. 78. 380-382 (2001)
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H.Ueno，：“改变亚微米金属氧化物半导体场效应晶体管中传统 1/f 频率依赖性的额外噪声源的证据”《应用物理快报》78. 380-382 (2001)。
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