Takayoshi Shimura: "X-ray diffraction evidence for the existence of epitaxial microcrystalites in thermally oxidized SiO_2 thin films on Si (111) surfaces" J. Cryst. Growth. 166. 786-791 (1996)
Takayoshi Shimura: "X-ray diffraction evidence for the existence of epitaxial microcrystalites in thermally oxidized SiO_2 thin films on Si (111) surfaces" J. Cryst. Growth. 166. 786-791 (1996)
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Takayoshi Shimura：“X 射线衍射证明 Si (111) 表面热氧化 SiO_2 薄膜中存在外延微晶” J. Cryst。
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