Grating-based X-ray Phase Contrast Imaging with a Microfocus X-ray Source by a SOI Pixel Detector, SOPHIAS
Grating-based X-ray Phase Contrast Imaging with a Microfocus X-ray Source by a SOI Pixel Detector, SOPHIAS
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通过 SOI 像素探测器 SOPHIAS 使用微焦点 X 射线源进行基于光栅的 X 射线相衬成像
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and T. Shimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Hosono;T. Kawabata;K. Hayashida;T. Kudo, K. Ozaki;T. Hatsui;N. Teranishi;T. Hosoi;H. Watanabe;and T. Shimura
