Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines
Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines
复制标题
线形对竹线电迁移损伤阈值电流密度的影响
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Saka)
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Sasagawa;(S.Uno;N.Yamaji;M.Saka)
