Development of 2D Potential Profile Measurements Using the Heavy Ion Beam Probe on the Large Helical Device
Development of 2D Potential Profile Measurements Using the Heavy Ion Beam Probe on the Large Helical Device
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使用大型螺旋装置上的重离子束探针进行二维电势分布测量的开发
DOI：
10.1585/pfr.11.2402123
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发表时间：
2016
影响因子：
0.8
通讯作者：
M. Yokoyama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Shimizu;T. Ido;M. Nishiura;H. Takahashi;H. Igami;Y. Yoshimura;S. Kubo;T. Shimozuma;S. Kato;M. Yokoyama
