半導体の3次非線形感受率テンソル測定と2光子吸収シミュレーション
半導体の3次非線形感受率テンソル測定と2光子吸収シミュレーション
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半导体三阶非线性磁化率张量测量与双光子吸收模拟
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
坂東弘之，李修平，諸岡明徳，大石真樹，松末俊夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小堀 稔文;高比良 和也;福田 武司;鎌田 憲彦;坂東弘之，李修平，諸岡明徳，大石真樹，松末俊夫
