Thermal Degradation and Theoretical Analysisof Amorphous Oxide Thin-Film Transistor
Thermal Degradation and Theoretical Analysisof Amorphous Oxide Thin-Film Transistor
复制标题
非晶氧化物薄膜晶体管的热劣化及理论分析
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Y. Uraoka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Urakawa;S. Tomai;M. Kasami;K. Yano;D. Wang;M. Furuta;M. Kimura;M. Horita;Y. Ishikawa;and Y. Uraoka
