Detecting the delamination damage for flexible organic light-emitting diodes
Detecting the delamination damage for flexible organic light-emitting diodes
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检测柔性有机发光二极管的分层损坏
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Kanematsu and I. C. Gruescu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Doi;T. Kobayashi;〇T. Horiuchi;H. Furumoto;Y. Utsumi;A. Yamaguchi;H. Kanematsu and I. C. Gruescu
