PROFILE SCALING IN DECAY OF NANOSTRUCTURES
PROFILE SCALING IN DECAY OF NANOSTRUCTURES
复制标题
纳米结构衰变中的轮廓缩放
DOI：
10.1103/physrevlett.80.3300
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发表时间：
1998
影响因子：
8.6
通讯作者：
D. Kandel
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Navot Israeli;D. Kandel
用阶跃流动模型研究了晶体锥体在粗化转变点以下的扁平化问题。数值分析和分析表明，高度廓线h(r，t)服从定标情形dh/dr=F(rt^{-1/4})。标度函数在半径r<；R(T)\sim t^{1/4}处是平坦的。我们找到了标度函数的一个单参数解族，并提出了系统达到的唯一解的选择准则。
The flattening of a crystal cone below its roughening transition is studied by means of a step flow model. Numerical and analytical analyses show that the height profile, h(r,t), obeys the scaling scenario dh/dr = F(r t^{-1/4}). The scaling function is flat at radii r<R(t) \sim t^{1/4}. We find a one parameter family of solutions for the scaling function, and propose a selection criterion for the unique solution the system reaches.