位相分解蛍光寿命測定法と近接場顕微技術を用いたナノスケール温度測定法の開発
位相分解蛍光寿命測定法と近接場顕微技術を用いたナノスケール温度測定法の開発
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利用相位分辨荧光寿命测量方法和近场显微镜技术开发纳米级温度测量方法
DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
岡巧,地紙平,田口良広,斎木敏治,長坂雄次
中科院分区:
文献类型:
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作者:
相川也;項榮;エイナルソンエリック;千足昇平;塩見淳一郎;西川英一;丸山茂夫;岡巧,地紙平,田口良広,斎木敏治,長坂雄次