Simultaneous determination of sample thickness, tilt, and electron mean free path using tomographic tilt images based on Beer-Lambert law.
Simultaneous determination of sample thickness, tilt, and electron mean free path using tomographic tilt images based on Beer-Lambert law.
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根据比尔-朗伯定律，使用断层扫描倾斜图像同时测定样品厚度、倾斜度和电子平均自由程。
DOI：
10.1016/j.jsb.2015.09.019
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发表时间：
2015
影响因子：
3
通讯作者：
Jiang,Wen
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Yan,Rui;Edwards,ThomasJ;Pankratz,LoganM;Kuhn,RichardJ;Lanman,JasonK;Liu,Jun;Jiang,Wen
