Ryoichi Ohno and Akira Higa : "Effect of Sulfur Treatment on the ・-ray Detection Quality of Al/CdTe/Pt Schottky Diode"
Ryoichi Ohno and Akira Higa : "Effect of Sulfur Treatment on the ・-ray Detection Quality of Al/CdTe/Pt Schottky Diode"
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Ryoichi Ohno 和 Akira Higa：“硫处理对 Al/CdTe/Pt 肖特基二极管的·射线检测质量的影响”
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tetsuya Yamauchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masaaki Yamazato;Tetsuya Yamauchi
