Atomic-scale characterization of germanium isotopic multilayers by atom probe tomography
Atomic-scale characterization of germanium isotopic multilayers by atom probe tomography
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通过原子探针断层扫描对锗同位素多层膜进行原子尺度表征
DOI：
10.1063/1.4773675
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发表时间：
2013
影响因子：
3.2
通讯作者：
Y. Nagai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Shimizu;H. Takamizawa;Y. Kawamura;M. Uematsu;T. Toyama;K. Inoue;E.. E.. Haller;K. M. Itoh;Y. Nagai
