表面ホール電位測定による半導体材料の電気的性質の評価
表面ホール電位測定による半導体材料の電気的性質の評価
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通过测量表面空穴电位评估半导体材料的电性能
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
有馬健太
中科院分区：
文献类型：
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作者：
桧皮賢治;仲岡亮史;森田瑞穂;有馬健太
