Charge Gradient Microscopy:Electromechanical Charge Scraping at the Nanoscale
Charge Gradient Microscopy:Electromechanical Charge Scraping at the Nanoscale
复制标题
电荷梯度显微镜：纳米级机电电荷刮除
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Roelofs
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Hong;S. Tong;Y. Choi;W. Park;Y. Hiranaga;Y. Cho;A. Roelofs
