ゼーマン効果を用いたポジトロニウム超微細構造の精密測定
ゼーマン効果を用いたポジトロニウム超微細構造の精密測定
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利用塞曼效应精确测量正电子超精细结构
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
山本明
中科院分区：
文献类型：
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作者：
石田明;末原大幹;難波俊雄;浅井祥仁;小林富雄;斎藤晴雄;吉田光宏;田中賢一;山本明
