Imaging Mie-Scattering Ellipsometry for Analyses of Dust Properties and Behaviors in Large Plasma System
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成像米氏散射椭偏仪用于分析大型等离子体系统中的灰尘特性和行为
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Masuzaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Hayashi;M. Kawano;A. Sanpei;S. Masuzaki
