Si-Ge solid solution single crystal growth by electron beam floating zone technique

Si-Ge solid solution single crystal growth by electron beam floating zone technique
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电子束浮区技术生长硅锗固溶体单晶

DOI:
10.1016/0022-0248(81)90331-6
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发表时间:
1981
影响因子:
1.8
通讯作者:
R. S. Umerov
R. S. Umerov
中科院分区:
材料科学3区
文献类型:
--
作者:
M. Saidov;A. Yusupov;R. S. Umerov

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