Simulation of crack initiation at the interface edge between sub-micron thick film under creep by cohesive zone model
Simulation of crack initiation at the interface edge between sub-micron thick film under creep by cohesive zone model
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内聚区模型模拟蠕变作用下亚微米厚膜界面边缘裂纹萌生
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Do Van Truong
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Do Van Truong;Hiroyuki Hirakata;Yoshimasa Takahashi;Takayuki Kitamura;Do Van Truong
