LCTI-SS: Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation for Avoiding Shift Timing Failures in Scan Testing
LCTI-SS: Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation for Avoiding Shift Timing Failures in Scan Testing
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LCTI-SS：低时钟树影响扫描分段，以避免扫描测试中的移位时序故障
DOI：
10.1109/mdt.2012.2221152
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发表时间：
2013
影响因子：
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通讯作者：
L.-T. Wang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Yamato;X. Wen;M. A. Kochte;K. Miyase;S. Kajihara;L.-T. Wang
在这篇文章中，作者描述了一种方法，以确保不发生错误的故障时，移动扫描链进行测试。他们的方法确定了同步时钟的扫描段的最佳组合，减少了时钟树附近的开关活动，同时保持了传统扫描分段的平均功耗降低。使用各种基准电路的实验证明了其方法的整体实用性。
In this contribution, the authors describe a method for ensuring that false failures do not occur when shifting scan chains for testing. Their approach identifies an optimal combination of scan segments for simultaneous clocking that reduces the switching activity near clock trees while maintaining the average power reduction for conventional scan segmentation. Experiments using various benchmark circuits demonstrate the overall utility of their approach.