Y.Hasegawa: "X-Ray Source Combined Ultrahigh-Vacuum Scanning Tunneling Microscopy for Elemental Analysis"J.Vac.Sci.Tech.B. 18. 2676-2680 (2000)
Y.Hasegawa: "X-Ray Source Combined Ultrahigh-Vacuum Scanning Tunneling Microscopy for Elemental Analysis"J.Vac.Sci.Tech.B. 18. 2676-2680 (2000)
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Y.Hasekawa：“用于元素分析的 X 射线源结合超高真空扫描隧道显微镜”J.Vac.Sci.Tech.B。
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