Terahertz Spectroscopy as a New Analyzing Tool for Dielectric Properties of Various Insulating Materials
Terahertz Spectroscopy as a New Analyzing Tool for Dielectric Properties of Various Insulating Materials
复制标题
太赫兹光谱作为各种绝缘材料介电性能的新分析工具
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Fukunaga
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Ohki;M. Okada. N. Fuse;K. Iwai. M. Mizuno;K. Fukunaga
