Illumination and scattered light detection using a light source consisting of sub-micrometer defect arrays formed on an extremely flat light waveguide core
Illumination and scattered light detection using a light source consisting of sub-micrometer defect arrays formed on an extremely flat light waveguide core
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使用由在极其平坦的光波导芯上形成的亚微米缺陷阵列组成的光源进行照明和散射光检测
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Toshifumi Ohkubo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
加藤;前田;岩崎;平井;Takafumi Matsumaru;Toshifumi Ohkubo
