XO.Shen,S.Tanaka,S.Iwai and Y.Aoyagi: "Drastical change in the GaN film quality by in-situ controlling surface reconstruction in GSMBE" Mat.Res.Soc.Symp.Proc. 482. 223-226 (1998)
XO.Shen,S.Tanaka,S.Iwai and Y.Aoyagi: "Drastical change in the GaN film quality by in-situ controlling surface reconstruction in GSMBE" Mat.Res.Soc.Symp.Proc. 482. 223-226 (1998)
复制标题
XO.Shen、S.Tanaka、S.Iwai 和 Y.Aoyagi：“通过在 GSMBE 中原位控制表面重构来显着改变 GaN 薄膜质量”Mat.Res.Soc.Symp.Proc。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
