A 65-nm CMOS 3.2-to-86 Mb/s 2.58 pJ/bit Highly Digital True-Random-Number Generator With Integrated De-Correlation and Bias Correction

A 65-nm CMOS 3.2-to-86 Mb/s 2.58 pJ/bit Highly Digital True-Random-Number Generator With Integrated De-Correlation and Bias Correction
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具有集成去相关和偏差校正功能的 65 nm CMOS 3.2 至 86 Mb/s 2.58 pJ/bit 高度数字化真随机数发生器

DOI:
10.1109/lssc.2019.2896777
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发表时间:
2018
影响因子:
2.7
通讯作者:
Sathe, Visvesh S.
Sathe, Visvesh S.
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Pamula, Venkata Rajesh;Sun, Xun;Kim, Sung Min;Rahman, Fahim ur;Zhang, Baosen;Sathe, Visvesh S.

文献摘要

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