Development of a deep-ultraviolet scanning nearfield optical microscope for nano-spectroscopic characterizations of AlxGa1-xN (x : 0 - 1) active layers
Development of a deep-ultraviolet scanning nearfield optical microscope for nano-spectroscopic characterizations of AlxGa1-xN (x : 0 - 1) active layers
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开发深紫外扫描近场光学显微镜，用于 AlxGa1-xN (x : 0 - 1) 活性层的纳米光谱表征
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Funato and Y. Kawakami
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Ishii;M. Funato and Y. Kawakami
