フェロセンで覆われたイオン流路にC60イオンを入射した際の出射粒子の質量分析
フェロセンで覆われたイオン流路にC60イオンを入射した際の出射粒子の質量分析
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将 C60 离子引入覆盖有二茂铁的离子通道时发射粒子的质量分析
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
立川知樹，内田貴司，本橋健次
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.H. Kim;Y. Teramoto;T. Nanba;H. Takagi;A. Ogata,;Shusuke Oura and Kazuo Umemura;立川知樹，内田貴司，本橋健次
